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REF80000B1NAJT

Name: Texas Instruments REF80000B1NAJT
Brand: Texas Instruments
SKU: 595-REF80000B1NAJT
Price: 98.65 USD
Availability: OutOfStock

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Mouser N.º:

595-REF80000B1NAJT

Fabricante N.º:

REF80000B1NAJT

Fabricante:

Texas Instruments

Descripción:

Referencias de voltaje Temperature-controll ed buried-Zener refe

Ciclo de vida:

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Atributo del producto	Valor de atributo	Seleccionar atributo
Fabricante:	Texas Instruments
Categoría de producto:	Referencias de voltaje
Estilo de montaje:	SMD/SMT
Paquete / Cubierta:	LCCC-20
Tipo de referencia:	Shunt Adjustable Precision References
Voltaje de salida:	7.6 V
Coeficiente de temperatura:	0.05 PPM/C
Temperatura de trabajo mínima:	- 55 C
Temperatura de trabajo máxima:	+ 125 C
Serie:	REF80
Empaquetado:	Reel
Marca:	Texas Instruments
Kit de desarrollo:	REF8EVM
Voltaje de entrada:	10 V to 16.5 V
Voltaje de entrada - Máx.:	16.5 V
Voltaje de entrada - Mín.:	10 V
Tipo de producto:	Voltage References
Apagado:	No Shutdown
Cantidad de empaque de fábrica:	250
Subcategoría:	PMIC - Power Management ICs
Corriente de suministro - Máx.:	15 mA

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USHTS:: 8542390090
ECCN:: EAR99

REF80 Temp-Controlled Buried Zener Reference

Texas Instruments REF80 Temperature-Controlled Buried Zener Reference combines a precision 7.6V reference with an internal heater to achieve a low-temperature drift of 0.05ppm/°C. The integrated heater keeps the internal temperature of the die at a constant set point, which helps the reference voltage stay constant regardless of ambient temperature variations. The internal temperature is pre-programmed to eliminate design complexities, enabling fast design cycles, easy bring-up, and no dependence on costly external precision components. This highly integrated reference features a 20-pin LCCC hermetically sealed ceramic package that provides excellent long-term stability of <1ppm. Texas Instruments REF80 Temperature-Controlled Buried Zener Reference is ideal for parametric and source measurement units, lab and field instrumentation, weight scales, battery-test equipment, digital multimeters, and data acquisition applications.